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News
ESREF Oral Presentations Wed
conference.vde.com
Oral Presentations Wednesday ESREF Helene Fremont 1, Jörg Kludt 2, Massar Wade 1, Kirsten Weide-Zaage 2, Isabelle Bord-Majek 1, Geneviève Duchamp 1
ESREF Oral Presentations Tue
conference.vde.com
Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann 2, Verena Hein 2, Christian Kovács 2 1 Leibniz Universität Hannover, Germany; 2 X-FAB Semiconductor Foundries AG, Germany Focused Ion Beam and European FIB User Group Tue-B-10:20-Invited Precise nanofabrication with multiple ion beams for advanced circuit edit
ZuE Zuverlässigkeit und Entwurf
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Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Aymen Moujbani, Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover; Verena Hein, Markus Ackermann, X-FAB AG, Erfurt:
Netzwerk-Profile
LinkedIn: Jörg Kludt - Wissenschaftlicher Mitarbeiter - Laboratorium für ...
Sehen Sie sich das Profil von Jörg Kludt auf LinkedIn an, dem weltweit größten beruflichen Netzwerk. 1 Job ist im Profil von Jörg Kludt aufgelistet. Sehen Sie ...
Business-Profile
Verena HEIN | Global Technical Coordinator Reliability ...ResearchGate
www.researchgate.net
Jörg Kludt · Kirsten Weide-Zaage; [...] ... Jörg Kludt · Kirsten Weide-Zaage; [...] ...
Projekte
Component reliability in high temperature automotive applications...
www.ims.uni-hannover.de
— Leitung: PD Dr.-Ing. Dipl.-Phys. K. Weide-Zaage. . Team: Dipl.-Ing. Jörg Kludt. Jahr: › forschung › projects
Bücher
Final Report of Geothermal Energy and High-Performance ...google.com
books.google.com
... Jörg Kludt, “Platziertes Drucksintern für den Aufbau hochtemperaturfester Hybridschaltungen”, Diploma Thesis, IHT, October (Input for WP2/WP3) [3] ...
Simulationsuntersuchung zur Bestimmung der Degradation...
books.google.com
Jörg Kludt. Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover, Reviews. Reviews aren't verified, but Google checks for and removes fake content when it's identified. Zuverlässigkeit, Entwurf von Halbleiterstrukturen, Back-End-of-Line. - Reliabilit ...
Rank Authors
lib.uit.edu.vn
G-Index: 0|H-Index: 0. 1, Jörg Kludt · (System will update later). Co-Authors: 5|Publications: 3|Citations: 0. G-Index: 0|H-Index: 0. 3, M. Toledano-Luque.
Simulationsuntersuchung zur Bestimmung der Degradation hochrobuster...
books.google.de
Zuverlässigkeit, Entwurf von Halbleiterstrukturen, Back-End-of-Line. - Reliability, design of semiconductor devices
Dokumente zum Namen
Zuverlässigkeit und Entwurf (ITG-FB 244) - InhaltVDE-Verlagftp.vde-verlag.de › _INHALT_01
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— Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Aymen Moujbani, Leibniz Universität Hannover;. Verena Hein, Markus Ackermann, X-FAB Semiconductor Foundries — Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Aymen Moujbani, Leibniz Universität Hannover;. Verena Hein, Markus Ackermann, X-FAB Semiconductor Foundries ...
Wissenschaftliche Veröffentlichungen
Dynamic simulation of migration induced failure ...ScienceDirect.com
www.sciencedirect.com
von A Moujbani · · Zitiert von: 5 — Author links open overlay panel. Aymen Moujbani a , Jörg Kludt a , Kirsten Weide-Zaage a , Markus Ackermann b , Verena Hein b , Lutz Meinshausen a. Show more. von A Moujbani · · Zitiert von: 5 — Author links open overlay panel. Aymen Moujbani a , Jörg Kludt a , Kirsten Weide-Zaage a , Markus Ackermann b , Verena Hein b , Lutz Meinshausen a. Show more.
dblp: Jörg Kludt
dblp.org
List of computer science publications by Jörg Kludt. Stop the war! Остановите войну! solidarity - - news - - donate - donate - donate; for scientists: ERA4Ukraine; Assistance in Germany; Ukrainian Global University; #ScienceForUkraine; def ...
apl. Prof. Dr.-Ing. Dipl.-Phys. Kirsten Weide-Zaage
www.ims.uni-hannover.de
9. Mai · Jörg Kludt Jahr: Laufzeit: Untersuchung zur Simulation von Bauelementen und Komponenten für die Entwicklung strahlenrobuster autonomer Systeme Im Zuge der Miniaturisierung moderner integrierter Schaltungen ...
Arbeitsgruppe RESRI – Institut für Mikroelektronische SystemeLeibniz Universität Hannover
www.ims.uni-hannover.de
... PD Dr.-Ing. Dipl.-Phys. K. Weide-Zaage. Team: Dipl.-Ing. Jörg Kludt. Jahr: Laufzeit: Letzte Änderung: Druckversion PD Dr.-Ing. Dipl.-Phys. K. Weide-Zaage. Team: Dipl.-Ing. Jörg Kludt. Jahr: Laufzeit: Letzte Änderung: Druckversion.
Veröffentlichungen allgemein
Modeling the SAC Microstructure Evolution under Thermal, ...CORE
core.ac.uk
von DIL Meinshausen · Zitiert von: 2 — Jörg Kludt, Leibniz Universität Hannover, Laboratorium für Informationstechnologie. [3.53] K. Weide-Zaage, “Exemplified calculation of stress migration in a ... von DIL Meinshausen · Zitiert von: 2 — Jörg Kludt, Leibniz Universität Hannover, Laboratorium für Informationstechnologie. [3.53] K. Weide-Zaage, “Exemplified calculation of stress migration in a ...
Dynamic simulation of octahedron slotted metal structures - researchr...
researchr.org
Authors. Jörg Kludt. This author has not been identified. Look up 'Jörg Kludt' in Google · Kirsten Weide-Zaage. This author has not been identified. Look up ...
Dynamic simulation of migration induced failure mechanism in...
researchr.org
... circuit interconnects}, author = {Aymen Moujbani and Jörg Kludt and Kirsten Weide-Zaage and Markus Ackermann and Verena Hein and Lutz Meinshausen}, ...
Sonstiges
EuroSimE in WroclawEuroSimE 2024
www.eurosime.org
Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann 2, Verena Hein Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann 2, Verena Hein Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann 2, Verena Hein Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann 2, Verena Hein
Explore Peeref via keywords, DOI, ISSN, title, or researcher ...Peeref
www.peeref.com
Hélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek, Geneviève Duchamp: MICROELECTRONICS RELIABILITY (2014). Article. Measuring ... Hélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek, Geneviève Duchamp: MICROELECTRONICS RELIABILITY (2014). Article. Measuring ...
Geneviève DUCHAMPIMS Bordeaux
www.ims-bordeaux.fr
... Jörg Kludt, Massar Wade, Geneviève Duchamp, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal Methodological approach for Jörg Kludt, Massar Wade, Geneviève Duchamp, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek Lien HAL : https://hal.science/hal Methodological approach for ...
Jahresbericht des Schuljahres Leo-Sympher
www.lsbk.de
Jörg Kludt, der zunächst mit einer. Abordnung von 10 Stunden die Abteilung unterstützt. Die ganze Abteilung wünscht ihm einen erfolgreichen Start und heißt ... Jörg Kludt, der zunächst mit einer. Abordnung von 10 Stunden die Abteilung unterstützt. Die ganze Abteilung wünscht ihm einen erfolgreichen Start und heißt ...
Top 48 papers presented at International Integrated ...AI Chat for scientific PDFs
typeset.io
Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann, Verena Hein• Institutions (1). Leibniz University of Hanover Sep TL;DR: Simulations show a ... Jörg Kludt 1, Kirsten Weide-Zaage 1, Markus Ackermann, Verena Hein• Institutions (1). Leibniz University of Hanover Sep TL;DR: Simulations show a ...
search – University Sports Department – Leibniz University Hannoverhochschulsport-hannover.de
www.hochschulsport-hannover.de
Deformation of octahedron slotted metal tracks verfasst von Jörg Kludt, Kirsten Weide Zaage, Markus Ackermann, ... Deformation of octahedron slotted metal tracks verfasst von Jörg Kludt, Kirsten Weide Zaage, Markus Ackermann, ...
Monday, October 1ESREF 2012
www.esref2012.unicas.it
— Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Markus Ackermann and Verena Hein. 1 Information Technology Laboratory, Leibniz Universität Hannover, Germany — Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Markus Ackermann and Verena Hein. 1 Information Technology Laboratory, Leibniz Universität Hannover, Germany.
Jörg Kludt | LinkedIn
www.linkedin.com
View Jörg Kludt's professional profile on LinkedIn. LinkedIn is the world's largest business network, helping professionals like Jörg Kludt discover inside ...
Jörg Kludt - Hagen - Handelsregisterauszüge
www.firmenzentrale.de
Handelsregisterauszug mit Jörg Kludt finden und downloaden
dblp: BibTeX records: Jörg Kludt
136.199.55.186
List of computer science publications by BibTeX records: Jörg Kludt
Jörg Kludt
www.infona.pl
Search results for: Jörg Kludt ... Aymen Moujbani, Jörg Kludt, Kirsten Weide- Zaage, Markus Ackermann, more · Microelectronics Reliability > > 53 >
Jörg Kludt - Hagen - Online-Handelsregister Auskunft
www.online-handelsregister.de
In Zusammenhang mit Erste ASG Abwicklungs GmbH,
2014 International Reliability Physics Symposium - PDF Free Download
docplayer.net
... Hui Li, S. Y. Lee, C. C. Chiu, K. Wu IT-4 Reliability Performance of Different Layouts of Wide Metal Tracks Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Markus Ackermann ...
ESREF Berlin, Germany - PDF Free Download
docplayer.net
... in Upstream/ Downstream Via Test Structures Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, ... Kirsten Weide-Zaage, Joerg Kludt X-FAB Semiconductor Foundries AG, ... ›
INSTITUT FÜR HOCHSPANNUNGSTECHNIK UND ELEKTRISCHE ENERGIEANLAGEN...
docplayer.org
... Magnetfeld-Kontakten in Vakuum (Wolf) Jörg Kludt Testen einer Überlastschutzbeschaltung für Halbleiterschalter (Bünsow) Patrick Schulz Entwicklung eines ... › Institut-fuer-hochspa...
Isabelle Bord-Majek - researchr alias
researchr.org
Qualification procedure for moisture in embedded capacitorsHélène Frémont, Jörg Kludt, Massar Wade, Kirsten Weide-Zaage, Isabelle Bord-Majek, ... › alias › isabell...
SpringerCitations - Details Page
citations.springernature.com
Aymen Moujbani, Jörg Kludt, Kirsten Weide-Zaage, Markus Ackermann, Verena Hein and Lutz Meinshausen. Journal: Microelectronics Reliability, 2013, Volume ...
Qualification procedure for moisture in embedded capacitors
www.infona.pl
Embedding passives in PCB permits to gain in integration density while enhancing electromagnetic compatibility performances. The choice of the dielectric film...
Modelling the SAC microstructure evolution under thermal,...
sciencedocbox.com
Ing. Jörg Kludt, Leibniz Universität Hannover, Laboratorium für Informationstechnologie. [3.53] K. Weide-Zaage, Exemplified calculation of stress migration in a ...
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