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Untersuchung des tiefenaufgelösten Strahlenschadenprofils in Silizium...
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Untersuchung des tiefenaufgelösten Strahlenschadenprofils in Silizium nach Implantation mit Hilfe der MOS-Struktur 7 von Rüdiger Ferretti. Front Cover.
Veröffentlichungen allgemein
Chemical Microsensors and Applications | (1998) | Publications | Spie
spie.org
Author(s): Frank Schitthelm; Kai-Sven Roever; Ruediger Ferretti. Show Abstract. Amorphous Diamond like carbon (DLC) thin films were ...
Electronic characterization of thin diamondlike carbon films for pH...
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Amorphous Diamond like carbon (DLC) thin films were deposited on to 4'-silicon wafers by an ... Author(s): Frank Schitthelm; Kai-Sven Roever; Ruediger Ferretti ...
Sonstiges
Electronic characterization of thin diamondlike SPIE Digital Librarywww.spiedigitallibrary.org › full
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Frank Schitthelm, Kai-Sven Roever, and Ruediger Ferretti "Electronic characterization of thin diamondlike carbon films for pH sensor applications", Proc.
CO Meeting Organizer EGU2011
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David Naafs, Jens Hefter, Patrizia Ferretti, Ruediger Stein, and Gerald Haug XL157 EGU Ensemble simulations of the minimum configuration of the Greenland ice sheet during the Last Interglacial constrained by ice ...
Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft
www.dpg-verhandlungen.de
... Properties of BaxSr1-xO Gate Oxide MIS Structures — •OLIVER KERKER, JAN ZACHARIAE, FARRUKH MIRZA, RÜDIGER FERRETTI, and KARL HOFMANN.
Bauelemente der Mikro- und Nanoelektronik - PDF Free Download
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Wollschläger FKP Gernot Krause Dr. Alexandr Cosceev Dr. Rüdiger Ferretti Degradationsphysik MOSFETs und Flash-EEPROMs Epitaktisches Hi-k ...
Personalia BERUFUNGEN AUSGABE UNIMAGAZIN HANNOVER. Dr. Sigrid...
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Dr. R. Grübel Institut für Mathematische Stochastik / Fakultät für Mathematik und Physik Dr.-Ing. Rüdiger Ferretti, Institut für Materalien und Bauelemente der ...
Electronic characterization of thin diamondlike carbon films for pH...
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SPIE Digital Library Proceedings
Time reduction of MCM-D prototype realization by process control ...www.spiedigitallibrary.org › full
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Helene Fremont, C. Ahrens, E. Saint Christophe, B. Enoeckl, M. Fathi, G. N'kaoua, C. Pellet, Ruediger Ferretti, and Yves Danto "Time reduction of MCM-D ...
Polarity dependent generation of gate-side and substrate-side oxide...
www.infona.pl
This work presents the border trap generation characteristics in 8.5nm thick nitrided gate oxides for positive and negative Fowler-Nordheim stress polarities....
Untersuchung des tiefenaufgelösten Strahlenschadenprofils in Silizium...
www.tib.eu
Title: Untersuchung des tiefenaufgelösten Strahlenschadenprofils in Silizium nach Implantation mit Hilfe der MOS-Struktur 7 von Rüdiger Ferretti.
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